Zum Hauptinhalt springen

Analytical electron microscopy of planar faults in SrO-doped CaTiO3

Recnik, A. ; Čeh, Miran ; et al.
In: Journal of Materials Research, Jg. 12 (1997-09-01), S. 2438-2446
Online unknown

Titel:
Analytical electron microscopy of planar faults in SrO-doped CaTiO3
Autor/in / Beteiligte Person: Recnik, A. ; Čeh, Miran ; Müllejans, H. ; Gu, Hui
Link:
Zeitschrift: Journal of Materials Research, Jg. 12 (1997-09-01), S. 2438-2446
Veröffentlichung: Springer Science and Business Media LLC, 1997
Medientyp: unknown
ISSN: 2044-5326 (print) ; 0884-2914 (print)
DOI: 10.1557/jmr.1997.0322
Schlagwort:
  • Materials science
  • Reflection high-energy electron diffraction
  • Mechanical Engineering
  • Doping
  • Scanning confocal electron microscopy
  • Analytical chemistry
  • Sintering
  • Condensed Matter Physics
  • Mechanics of Materials
  • Scanning transmission electron microscopy
  • Energy filtered transmission electron microscopy
  • General Materials Science
  • Crystallite
  • Solid solution
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: CLOSED

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -