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Time of arrival measurement for indoor distance monitoring in 130-nm CMOS

Banerjee, Gaurab ; Javed S Gaggatur
In: Measurement, Jg. 146 (2019-11-01), S. 372-379
Online unknown

Titel:
Time of arrival measurement for indoor distance monitoring in 130-nm CMOS
Autor/in / Beteiligte Person: Banerjee, Gaurab ; Javed S Gaggatur
Link:
Zeitschrift: Measurement, Jg. 146 (2019-11-01), S. 372-379
Veröffentlichung: Elsevier BV, 2019
Medientyp: unknown
ISSN: 0263-2241 (print)
DOI: 10.1016/j.measurement.2019.02.091
Schlagwort:
  • Computer science
  • business.industry
  • Vernier scale
  • Applied Mathematics
  • 020208 electrical & electronic engineering
  • 010401 analytical chemistry
  • Electrical engineering
  • 02 engineering and technology
  • Ring oscillator
  • Condensed Matter Physics
  • Chip
  • 01 natural sciences
  • 0104 chemical sciences
  • law.invention
  • Front and back ends
  • Phase-locked loop
  • Time of arrival
  • CMOS
  • law
  • Frequency domain
  • 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering
  • Electrical and Electronic Engineering
  • business
  • Instrumentation
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: CLOSED

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