Characterization and RF design aspects in advanced CMOS technology
Technical University of Crete, 2011
Online
unknown
Zugriff:
Κεφ. 1: Πειραματική διαδικασία -- Κεφ. 2: Ευλινησία -- Κεφ. 3: Τάση κατωφλίου -- Κεφ. 4: Κανονικοποιημένες διαγωγιμότητες -- Κεφ. 5: Slope factor -- Κεφ. 6: Συχνότητα μοναδιαίου κέρδους
Titel: |
Characterization and RF design aspects in advanced CMOS technology
|
---|---|
Link: | |
Veröffentlichung: | Technical University of Crete, 2011 |
Medientyp: | unknown |
DOI: | 10.26233/heallink.tuc.13624 |
Sonstiges: |
|