Si CVV Auger line shapes: tight binding model with inter-atomic phases

Pernaselci, A. ; Cini, Michele

In: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Jg. 82 (1996-11-01), S. 79-85

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We present the line shape analysis of the Si CVV transitions based on an extended Cini-Sawatzky approach, including overlap effects. We show that introducing an appropriate phase shift between the s and p tight binding basis orbitals of different atoms is essential to achieve agreement with experiment. The physical nature of this phase shift is discussed.

Titel:	Si CVV Auger line shapes: tight binding model with inter-atomic phases
Autor/in / Beteiligte Person:	Pernaselci, A. ; Cini, Michele
Link:	View record in OpenAIRE (Volltext) E-Journal im Bestand der UB Hagen? https://doi.org/10.1016/s0368-2048(96)03039-3
Zeitschrift:	Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Jg. 82 (1996-11-01), S. 79-85
Veröffentlichung:	Elsevier BV, 1996
Medientyp:	unknown
ISSN:	0368-2048 (print)
DOI:	10.1016/s0368-2048(96)03039-3
Schlagwort:	Radiation Silicon chemistry.chemical_element Condensed Matter Physics Auger line Atomic and Molecular Physics, and Optics Electronic, Optical and Magnetic Materials Tight binding chemistry Atomic orbital Physical and Theoretical Chemistry Atomic physics Spectroscopy Shape analysis (digital geometry)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: OpenAIRE Rights: CLOSED

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