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Noise Margin, Delay, and Power Model for Pseudo-CMOS TFT Logic Circuits

Zhao, Jiaqing ; Liu, Yongpan ; et al.
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-06-01), S. 2635-2642
Online unknown

Titel:
Noise Margin, Delay, and Power Model for Pseudo-CMOS TFT Logic Circuits
Autor/in / Beteiligte Person: Zhao, Jiaqing ; Liu, Yongpan ; Liu, Wenjiang ; Zhao, Qinghang ; Feng, Linrun ; Yang, Huazhong ; Sun, Wenyu ; Guo, Xiaojun ; Xu, Xiaoli
Link:
Zeitschrift: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-06-01), S. 2635-2642
Veröffentlichung: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017
Medientyp: unknown
ISSN: 1557-9646 (print) ; 0018-9383 (print)
DOI: 10.1109/ted.2017.2695527
Schlagwort:
  • 0301 basic medicine
  • Engineering
  • Pass transistor logic
  • Semiconductor device modeling
  • Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY
  • 01 natural sciences
  • law.invention
  • 03 medical and health sciences
  • law
  • 0103 physical sciences
  • Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS
  • Electronic engineering
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Electronic circuit
  • 010302 applied physics
  • business.industry
  • Transistor
  • Electrical engineering
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Noise margin
  • 030104 developmental biology
  • Integrated injection logic
  • CMOS
  • Logic gate
  • business
  • Hardware_LOGICDESIGN
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: CLOSED

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