Characterization of Crossing Transmission Line Using Two-Port Measurements for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

Tokgoz, Korkut ; Kaan ; et al.

In: IEICE Transactions on Electronics, 2015, Heft No. 1, S. 35-44

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Titel:	Characterization of Crossing Transmission Line Using Two-Port Measurements for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design
Autor/in / Beteiligte Person:	Tokgoz, Korkut ; Kaan ; Tokgoz, Korkut Kaan ; LIM, KIMSRUN ; Lim, Kimsrun ; Kawai, Seitaro ; NURUL, FAJRI ; Fajri, Nurul ; Okada, Kenichi ; Matsuzawa, Akira
Link:	View record in OpenAIRE (Volltext) http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100683934
Zeitschrift:	IEICE Transactions on Electronics, 2015, Heft No. 1, S. 35-44
Veröffentlichung:	IEICE, 2015
Medientyp:	unknown
Schlagwort:	Physics Transmission line business.industry Extremely high frequency Electrical engineering Electronic engineering Port (circuit theory) Cmos circuit design Electrical and Electronic Engineering business Electronic, Optical and Magnetic Materials Characterization (materials science)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: OpenAIRE Sprachen: English Language: English

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