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Investigation of HV/HR-CMOS technology for the ATLAS Phase-II Strip Tracker Upgrade

Fadeyev, V. ; Das, D. ; et al.
In: Nuclear instruments & methods in physics research / A 831, 189-196 (2016). doi:10.1016/j.nima.2016.05.092; (2016-09-21)
Online unknown

Titel:
Investigation of HV/HR-CMOS technology for the ATLAS Phase-II Strip Tracker Upgrade
Autor/in / Beteiligte Person: Fadeyev, V. ; Das, D. ; F. A. Di Bello ; Shipsey, Ian ; Buckland, M. ; M R M Warren ; Peric, Ivan ; Su, D. ; Kramberger, Gregor ; Bortoletto, Daniela ; Arndt, Kirk ; Zhang, Jie ; Benoit, Mathieu ; Liang, Zhijun ; Hoeferkamp, Martin ; Galloway, Z. ; Wen Yi Song ; Vigani, Luigi ; Hommels, L. B. A. H. ; Mandić, Igor ; Kenney, C.J. ; Grenier, Philippe ; Seiden, Abraham ; Gregor, I. M. ; Marcel Michael Stanitzki ; Wang, Rui ; Seidel, Sally ; Dragone, Angelo ; Ehrler, F. ; Kanisauskas, K. ; Rubbo, Francesco ; Caragiulo, P. ; Grillo, Alexander ; McMahon, S. ; Tamma, C. ; Grabas, H. M. X. ; Bates, Richard ; Zhu, Hongbo ; Blue, Andrew ; Worm, S. D. ; Meng, Lingxin ; Segal, J. ; Mikuž, Marko ; Plackett, R. ; Wilson, F. F. ; Xiu, Q. ; Nickerson, Richard ; Turchetta, Renato ; Dopke, Jens ; Buttar, Craig ; Maneuski, Dzmitry ; John, J. J. ; Martinez-Mckinney, F. ; Volk, J. ; Todd Brian Huffman ; Affolder, A. A. ; Phillips, P. ; Muenstermann, Daniel
Link:
Quelle: Nuclear instruments & methods in physics research / A 831, 189-196 (2016). doi:10.1016/j.nima.2016.05.092; (2016-09-21)
Veröffentlichung: 2016
Medientyp: unknown
DOI: 10.1016/j.nima.2016.05.092
Schlagwort:
  • Nuclear and High Energy Physics
  • 01 natural sciences
  • damage [radiation]
  • upgrade [tracking detector]
  • technology [semiconductor detector]
  • semiconductor detector: pixel
  • 0103 physical sciences
  • Electronic engineering
  • ddc:530
  • spatial resolution
  • Instrumentation
  • Image resolution
  • Radiation hardening
  • radiation: damage
  • pixel [semiconductor detector]
  • 010302 applied physics
  • Physics
  • yield [charge]
  • semiconductor detector: technology
  • Pixel
  • 010308 nuclear & particles physics
  • tracking detector: upgrade
  • charge: yield
  • Detector
  • microstrip [semiconductor detector]
  • ATLAS
  • Chip
  • Upgrade
  • CMOS
  • electronics: readout
  • semiconductor detector: microstrip
  • readout [electronics]
  • performance
  • Voltage
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Sprachen: English
  • File Description: application/pdf
  • Language: English
  • Rights: OPEN

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