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Sub-pixel electron detection using a convolutional neural network

Jan Pieter Abrahams ; Eric van Genderen ; et al.
In: Ultramicroscopy, Jg. 218 (2020-11-01), S. 113091-113091
Online unknown

Titel:
Sub-pixel electron detection using a convolutional neural network
Autor/in / Beteiligte Person: Jan Pieter Abrahams ; Eric van Genderen ; Peters, Peter J. ; J. Paul van Schayck ; Boulanger, Hugo ; Fröjdh, Erik ; Roussel, Lucas ; Ravelli, Raimond B. G. ; Maddox, Erik ; RS: M4I - Nanoscopy ; Institute of Nanoscopy (IoN)
Link:
Zeitschrift: Ultramicroscopy, Jg. 218 (2020-11-01), S. 113091-113091
Veröffentlichung: Elsevier BV, 2020
Medientyp: unknown
ISSN: 0304-3991 (print)
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113091
Schlagwort:
  • EFFICIENCY
  • Microscope
  • Cryo-electron microscopy
  • 02 engineering and technology
  • DIFFRACTION
  • 01 natural sciences
  • CCD CAMERAS
  • law.invention
  • Optics
  • law
  • 0103 physical sciences
  • Medipix
  • Electron counting
  • Instrumentation
  • Cryo-EM
  • 010302 applied physics
  • Physics
  • CMOS sensor
  • Pixel
  • business.industry
  • Dynamic range
  • Detector
  • Detectors
  • 021001 nanoscience & nanotechnology
  • Neural network
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • RESOLUTION
  • Structural biology
  • 0210 nano-technology
  • business
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • File Description: application/pdf
  • Rights: OPEN

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