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Fixed Pattern Noise Reduction and Linearity Improvement in Time-Mode CMOS Image Sensors

Sun, Yichuang ; Klosowski, M.
In: Sensors, Jg. 20 (2020-10-01), Heft 5921
Online unknown

Titel:
Fixed Pattern Noise Reduction and Linearity Improvement in Time-Mode CMOS Image Sensors
Autor/in / Beteiligte Person: Sun, Yichuang ; Klosowski, M.
Link:
Zeitschrift: Sensors, Jg. 20 (2020-10-01), Heft 5921
Veröffentlichung: MDPI AG, 2020
Medientyp: unknown
ISSN: 1424-8220 (print)
Schlagwort:
  • Computer science
  • ComputingMethodologies_IMAGEPROCESSINGANDCOMPUTERVISION
  • time-mode ADC
  • offset correction
  • 02 engineering and technology
  • lcsh:Chemical technology
  • 01 natural sciences
  • Biochemistry
  • Article
  • Analytical Chemistry
  • Digital clock
  • Least significant bit
  • 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering
  • Electronic engineering
  • Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS
  • integral nonlinearity correction
  • lcsh:TP1-1185
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Image sensor
  • Instrumentation
  • image sensor
  • 020208 electrical & electronic engineering
  • 010401 analytical chemistry
  • Fixed-pattern noise
  • Linearity
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • 0104 chemical sciences
  • CMOS
  • Integral nonlinearity
  • fixed pattern noise
  • gain correction
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Sprachen: English
  • File Description: application/pdf
  • Language: English
  • Rights: OPEN

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