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Model Uncertainty in Accelerated Degradation Testing Analysis

Jiang, Tongmin ; Zio, Enrico ; et al.
In: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 66 (2017-09-01), S. 603-615
Online unknown

Titel:
Model Uncertainty in Accelerated Degradation Testing Analysis
Autor/in / Beteiligte Person: Jiang, Tongmin ; Zio, Enrico ; Liu, Le ; Kang, Rui ; Li, Xiaoyang ; Laboratoire Génie Industriel - EA 2606 (LGI) ; CentraleSupélec
Link:
Zeitschrift: IEEE Transactions on Reliability, Jg. 66 (2017-09-01), S. 603-615
Veröffentlichung: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017
Medientyp: unknown
ISSN: 1558-1721 (print) ; 0018-9529 (print)
DOI: 10.1109/tr.2017.2696341
Schlagwort:
  • Risk
  • Engineering
  • Bayesian methods
  • Stochastic modelling
  • Gamma process
  • 0211 other engineering and technologies
  • Coverage probability
  • 02 engineering and technology
  • [QFIN.RM]Quantitative Finance [q-fin]/Risk Management [q-fin.RM]
  • Bayesian inference
  • 01 natural sciences
  • 010104 statistics & probability
  • symbols.namesake
  • Wiener process
  • Statistics
  • Applied mathematics
  • 0101 mathematics
  • Electrical and Electronic Engineering
  • uncertainty
  • Safety, Risk, Reliability and Quality
  • degradation
  • 021103 operations research
  • Accelerated aging
  • stochastic processes
  • Stochastic process
  • business.industry
  • degrada- tion
  • Reliability and Quality
  • symbols
  • Safety
  • business
  • Test data
  • Quantile
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Rights: OPEN

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