Study of the impact of dielectric aging on coplanar waveguide performance

Lüders, Ulrike ; Voiron, Frederic ; et al.

In: 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2016, South Lake Tahoe, United States. pp.103-106, ⟨10.1109/IIRW.2015.7437078⟩ 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), Oct 2015, South Lake Tahoe, United States. pp.103-106, ⟨10.1109/IIRW.2015.7437078⟩; (2016)

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International audience; In this paper, we study the impact of electrical and thermal stress on line loss and characteristic impedance of a CoPlanar Waveguides (CPWs). The de-rating of the line propagation constants and impedance characteristic are analyzed and discussed with respect to the stress level applied to the dielectric. The physical mechanisms leading to dielectric properties variation is explained. © 2015 IEEE.

Titel:	Study of the impact of dielectric aging on coplanar waveguide performance
Autor/in / Beteiligte Person:	Lüders, Ulrike ; Voiron, Frederic ; Anh Phuong Nguyen ; Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT) ; École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC) ; IPDiA ; Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA) ; Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN) ; Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Link:	View record in OpenAIRE (Volltext) https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02184739
Quelle:	2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2016, South Lake Tahoe, United States. pp.103-106, ⟨10.1109/IIRW.2015.7437078⟩ 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), Oct 2015, South Lake Tahoe, United States. pp.103-106, ⟨10.1109/IIRW.2015.7437078⟩; (2016)
Veröffentlichung:	HAL CCSD, 2016
Medientyp:	unknown
Schlagwort:	Silicon Materials science 020209 energy Analytical chemistry Physics::Optics charges 02 engineering and technology Dielectric Stress line loss 01 natural sciences Characteristic impedance Coplanar waveguide (CPW) 0103 physical sciences 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering [CHIM.CRIS]Chemical Sciences/Cristallography [CHIM]Chemical Sciences Line loss Electrical impedance 010302 applied physics Temperature measurement Substrates business.industry Coplanar waveguide Impedance Dielectrics materials [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry mobile ions Line (electrical engineering) Dielectric spectroscopy Coplanar waveguides [CHIM.THEO]Chemical Sciences/Theoretical and/or physical chemistry Ageing dielectric stress Thermal stresses Optoelectronics characteristic impedance Dielectrics Primary line constants business
Sonstiges:	Nachgewiesen in: OpenAIRE Sprachen: English Language: English

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