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Estudo da linearidade em transistores SOI de porta dupla com estrutura de canal gradual

Doria, R. T. ; Pavanello, M. A.
In: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana (FEI) instacron:FEI; (2007)
Online unknown

Titel:
Estudo da linearidade em transistores SOI de porta dupla com estrutura de canal gradual
Autor/in / Beteiligte Person: Doria, R. T. ; Pavanello, M. A.
Link:
Quelle: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI Centro Universitário da Fundação Educacional Inaciana (FEI) instacron:FEI; (2007)
Veröffentlichung: Centro Universitário da Fei, São Bernardo do Campo, 2007
Medientyp: unknown
Schlagwort:
  • Tecnologia de silício sobre isolante
  • Transistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutor
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OpenAIRE
  • Sprachen: Portuguese
  • Language: Portuguese
  • Rights: OPEN

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