A Cryo-CMOS SAR ADC With FIA Sampling Driver Enabled by Cryogenic-Aware Back-Biasing

Kiene, Gerd ; Overwater, Ramon W. J. ; et al.

In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 1071-1081

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Titel:	A Cryo-CMOS SAR ADC With FIA Sampling Driver Enabled by Cryogenic-Aware Back-Biasing
Autor/in / Beteiligte Person:	Kiene, Gerd ; Overwater, Ramon W. J. ; Babaie, Masoud ; Sebastiano, Fabio ; Corporation, Intel
Link:	https://doi.org/10.1109/tcsi.2023.3336566 Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 1071-1081
Veröffentlichung:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1549-8328
DOI:	10.1109/tcsi.2023.3336566
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Hardware and Architecture
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: unknown Document Type: article in journal/newspaper Language: unknown Rights: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode

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