A high-speed quadruple-node-upset-tolerant latch in 22 nm CMOS technology

Huang, Zhengfeng ; Zhang, Yan ; et al.

In: Microelectronics Reliability ; volume 147, page 115032 ; ISSN 0026-2714, 2023

academicJournal

Titel:	A high-speed quadruple-node-upset-tolerant latch in 22 nm CMOS technology
Autor/in / Beteiligte Person:	Huang, Zhengfeng ; Zhang, Yan ; Wu, Wenhui ; Duan, Lanxi ; Liang, Huaguo ; Ouyang, Yiming ; Yan, Aibin ; Song, Tai ; National Natural Science Foundation of China ; Ministry of Education of the People's Republic of China ; China Scholarship Council
Link:	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115032 https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271423001324?httpAccept=text/xml https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271423001324?httpAccept=text/plain
Zeitschrift:	Microelectronics Reliability ; volume 147, page 115032 ; ISSN 0026-2714, 2023
Veröffentlichung:	Elsevier BV, 2023
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1016/j.microrel.2023.115032
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Surfaces, Coatings and Films Safety, Risk, Reliability and Quality Condensed Matter Physics Atomic and Molecular Physics, and Optics Electronic, Optical and Magnetic Materials
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: ScienceDirect (Elsevier - Open Access Articles via Crossref) Document Type: article in journal/newspaper Language: English Rights: https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/ ; https://doi.org/10.15223/policy-017 ; https://doi.org/10.15223/policy-037 ; https://doi.org/10.15223/policy-012 ; https://doi.org/10.15223/policy-029 ; https://doi.org/10.15223/policy-004

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