Correlations between DCR and PDP of SPAD integrated in a 28 nm FD-SOI CMOS Technology

Gao, Shaochen Gao ; Issartel, Dylan ; et al.

In: 2023, International Image Sensor Workshop (IISW), Crieff, United Kingdom, 21-25 May, 2023

Konferenz

Titel:	Correlations between DCR and PDP of SPAD integrated in a 28 nm FD-SOI CMOS Technology
Autor/in / Beteiligte Person:	Gao, Shaochen Gao ; Issartel, Dylan ; Dolatpoor Lakeh, Mohammadreza ; Mandorlo, Fabien ; Orobtchouk, Régis ; Kammerer, Jean-Baptiste ; Cathelin, Andreia ; Golanski, Dominique ; Uhring, Wilfried ; Calmon, Francis ; Laboratoire des sciences de l'ingénieur, de l'informatique et de l'imagerie (ICube) ; École Nationale du Génie de l'Eau et de l'Environnement de Strasbourg (ENGEES)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National des Sciences Appliquées - Strasbourg (INSA Strasbourg) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Les Hôpitaux Universitaires de Strasbourg (HUS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE) ; Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique ; Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Link:	https://hal.science/hal-03977945
Zeitschrift:	2023, International Image Sensor Workshop (IISW), Crieff, United Kingdom, 21-25 May, 2023
Veröffentlichung:	HAL CCSD, 2023
Medientyp:	Konferenz
Schlagwort:	Crieff United Kingdom [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics Subject Geographic: Crieff United Kingdom
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: Archive ouverte HAL (Hyper Article en Ligne, CCSD - Centre pour la Communication Scientifique Directe) Document Type: conference object ; still image Language: English Relation: hal-03977945; https://hal.science/hal-03977945

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