On the CET-Map Ill-Posed Inversion Problem: Theory and Application to GaN HEMTs

Modolo, Nicola ; De Santi, Carlo ; et al.

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 1646-1653

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Titel:	On the CET-Map Ill-Posed Inversion Problem: Theory and Application to GaN HEMTs
Autor/in / Beteiligte Person:	Modolo, Nicola ; De Santi, Carlo ; Baratella, Giulio ; Minetto, Andrea ; Sayadi, Luca ; Sicre, Sebastien ; Prechtl, Gerhard ; Meneghesso, Gaudenzio ; Zanoni, Enrico ; Meneghini, Matteo
Link:	https://doi.org/10.1109/ted.2023.3284806 Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024), Heft 3, S. 1646-1653
Veröffentlichung:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9383
DOI:	10.1109/ted.2023.3284806
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Electronic, Optical and Magnetic Materials
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: unknown Document Type: article in journal/newspaper Language: unknown Rights: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/

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