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Low-voltage low-distortion sampling switch design in 22 nm FD-SOI CMOS technology

Bora, Pragoti Pran ; Borggreve, David ; et al.

In: 978-1-5386-1911-7 ; 978-1-5386-1912-4 ; Bora, Pragoti Pran; Borggreve, David; Vanselow, Frank; Isa, Erkan; Maurer, Linus: Low-voltage low-distortion sampling switch design in 22 nm FD-SOI CMOS technology. In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (24., 2017, Batumi). Piscataway, NJ :, 2017

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Low-voltage low-distortion sampling switch design in 22 nm FD-SOI CMOS technology
Autor/in / Beteiligte Person:	Bora, Pragoti Pran ; Borggreve, David ; Vanselow, Frank ; Isa, Erkan ; Maurer, Linus
Link:	http://athene-forschung.unibw.de/node?id=125867 https://doi.org/10.1109/ICECS.2017.8292033
Zeitschrift:	978-1-5386-1911-7 ; 978-1-5386-1912-4 ; Bora, Pragoti Pran; Borggreve, David; Vanselow, Frank; Isa, Erkan; Maurer, Linus: Low-voltage low-distortion sampling switch design in 22 nm FD-SOI CMOS technology. In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (24., 2017, Batumi). Piscataway, NJ :, 2017
Veröffentlichung:	IEEE, 2017
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-5386-1911-7 (print) ; 978-1-5386-1912-4 (print) ; 1-5386-1911-3 (print) ; 1-5386-1912-1 (print)
DOI:	10.1109/ICECS.2017.8292033
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: German Document Type: conference object Language: German Rights: info:eu-repo/semantics/closedAccess

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Low-voltage low-distortion sampling switch design in 22 nm FD-SOI CMOS technology