Test and Reliability of Approximate Hardware
In: hal-03888016;; (2022)
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International audience ; The undeniable need of energy efficiency in today’s devices is leading to the adoption of innovative computing paradigms—such as Approximate Computing. As this paradigm is gaining increasing interest, important challenges, as well as opportunities, arise concerning the dependability of those systems. This chapter will focus on test and reliability issues related to approximate hardware systems. It will cover problems and solutions concerning the impact of the approximation on hardware defect classification, test generation, and test application. Moreover, the impact of the approximation on the fault tolerance will be discussed, along with related design solutions to mitigate it.
| Titel: |
Test and Reliability of Approximate Hardware
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| Autor/in / Beteiligte Person: | Traiola, Marcello ; Deveautour, Bastien ; Bosio, Alberto ; Girard, Patrick ; Virazel, Arnaud ; Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN) ; Inria Rennes – Bretagne Atlantique ; Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3) ; Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA) ; Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique) ; Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique) ; Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT) ; INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH) ; Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (LIRMM ; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM) ; Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM) |
| Link: | |
| Quelle: | hal-03888016;; (2022) |
| Veröffentlichung: | HAL CCSD ; Springer International Publishing, 2022 |
| Medientyp: | Buch |
| DOI: | 10.1007/978-3-030-98347-5_10 |
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