Semi-automatic test system for characterization of ASIC/MPWS, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Kociubiński, Andrzej ; Tomaszewski, Daniel ; et al.

In: Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005

academicJournal

A measurement system for integrated circuit testing has been developed. It consists of a semi-automatic probe station and a set of measurement equipment controlled by commercially available measurement software. The probe station is controlled by dedicated software. Both the measurement and station-control software communicate using the DDE protocol. The measurement system is flexible. It is particularly suitable for semi-automatic testing of multi-project wafers. Output data generated by the system is used for the characterization of the CMOS technologies.

Titel:	Semi-automatic test system for characterization of ASIC/MPWS, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1
Autor/in / Beteiligte Person:	Kociubiński, Andrzej ; Tomaszewski, Daniel ; Wójcik, Janusz ; Zając, Jerzy
Link:	http://dlibra.itl.waw.pl/dlibra-webapp/Content/376
Zeitschrift:	Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005
Veröffentlichung:	Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa, 2005
Medientyp:	academicJournal
Schlagwort:	automatic testing diagnostics of technology multi-project wafers
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English, Old (ca.450-1100) Collection: National Institute of Telecomunications: Digital Library Document Type: article in journal/newspaper File Description: application/pdf Language: English, Old (ca.450-1100) Rights: Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

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