Caractérisation du dopage de dispositifs de puissance en 4H-SiC par KPFM et spectroscopie µ-Raman
In: 24ème Forum des microscopies à sonde locale ; https://hal.science/hal-04171760 ; 24ème Forum des microscopies à sonde locale, Apr 2023, Obernai, France ; http://sondeslocales.fr/forum2023, 2023
Konferenz
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International audience
Titel: |
Caractérisation du dopage de dispositifs de puissance en 4H-SiC par KPFM et spectroscopie µ-Raman
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Autor/in / Beteiligte Person: | Sédilot, Anaël ; Vuillermet, Enora, Marion ; Deturche, Régis ; Usureau, Elise ; Béal, Jérémie ; Bercu, Nicolas ; Lazar, Mihai ; Lumière, nanomatériaux et nanotechnologies (L2n) ; Université de Technologie de Troyes (UTT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Laboratoire de Recherche en Nanosciences - EA 4682 (LRN) ; Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-SFR CAP Santé (Champagne-Ardenne Picardie Santé) ; Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-SFR Condorcet ; Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Reims Champagne-Ardenne (URCA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Nanomat platform, part of the Renatech platform, supported by the Ministère de l’Enseignement Supérieur et de la Recherche, the Région Grand Est, and FEDER funds from the European Community. ; European Project: 508 2699-33931 |
Link: | |
Zeitschrift: | 24ème Forum des microscopies à sonde locale ; https://hal.science/hal-04171760 ; 24ème Forum des microscopies à sonde locale, Apr 2023, Obernai, France ; http://sondeslocales.fr/forum2023, 2023 |
Veröffentlichung: | HAL CCSD, 2023 |
Medientyp: | Konferenz |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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