Compatibility of the BSIM-CMG to the Low-Frequency Noise Simulation in Subthreshold and Linear Regions of Amorphous InZnO TFTs

Chen, Yayi ; Liu, Xingji ; et al.

In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 12, page 275-280 ; ISSN 2168-6734, 2024

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Titel:	Compatibility of the BSIM-CMG to the Low-Frequency Noise Simulation in Subthreshold and Linear Regions of Amorphous InZnO TFTs
Autor/in / Beteiligte Person:	Chen, Yayi ; Liu, Xingji ; Lei, Dengyun ; Liu, Yuan ; Chen, Rongsheng ; Ni, Yao ; Kwok, Hoi-Sing ; Zhong, Wei ; National Natural Science Foundation of China ; Characteristic Innovation Project of Guangdong Universities, China ; University-Level Quality Engineering Project
Link:	https://doi.org/10.1109/jeds.2024.3375867 Volltext
Zeitschrift:	IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 12, page 275-280 ; ISSN 2168-6734, 2024
Veröffentlichung:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1109/jeds.2024.3375867
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Electronic, Optical and Magnetic Materials Biotechnology
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: unknown Document Type: article in journal/newspaper Language: unknown Rights: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode

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