Investigation on operation robustness of p-type low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistor-based micro light-emitting diode pixel circuit using pulse width modulation under component fluctuation

Oh, Jongsu ; Kim, Jin-Ho ; et al.

In: Journal of Information Display, Jg. 23 (2022), Heft 3, S. 185-192

academicJournal

Titel:	Investigation on operation robustness of p-type low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistor-based micro light-emitting diode pixel circuit using pulse width modulation under component fluctuation
Autor/in / Beteiligte Person:	Oh, Jongsu ; Kim, Jin-Ho ; Jung, Eun Kyo ; Min, Jongsul ; Im, Hwarim ; Kim, Yong-Sang
Link:	https://doi.org/10.1080/15980316.2022.2029778
Zeitschrift:	Journal of Information Display, Jg. 23 (2022), Heft 3, S. 185-192
Veröffentlichung:	Informa UK Limited, 2022
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1598-0316
DOI:	10.1080/15980316.2022.2029778
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering General Materials Science
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Document Type: article in journal/newspaper Language: English Rights: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

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