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The dissipated power in atomic force microscopy due to interactions with a capillary fluid layer ; Journal of Applied Physics

Hashemi, Nastaran ; Paul, Mark R. ; et al.
American Institute of Physics, 2008
Online academicJournal

Titel:
The dissipated power in atomic force microscopy due to interactions with a capillary fluid layer ; Journal of Applied Physics
Autor/in / Beteiligte Person: Hashemi, Nastaran ; Paul, Mark R. ; Dankowicz, Harry ; Lee, M. ; Jhe, W. ; Engineering, Mechanical ; Virginia Tech. Department of Mechanical Engineering ; University of Illinois at Urbana-Champaign. Department of Mechanical Science and Engineering ; Seoul National University. Department of Physics and Astronomy
Link:
Veröffentlichung: American Institute of Physics, 2008
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0021-8979 (print)
DOI: 10.1063/1.2980057
Schlagwort:
  • Liquid surfaces
  • Surface dynamics
  • Rheology and fluid dynamics
  • Atomic force microscopy
  • Adhesion
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: BASE
  • Sprachen: English
  • Collection: VTechWorks (VirginiaTech)
  • Document Type: article in journal/newspaper
  • File Description: 6 pages; application/pdf
  • Language: English
  • Rights: In Copyright ; http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/

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