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Parameterization Models for Traceable Characterization of Planar CPW SOL Calibration Standards

Mubarak, F. ; Mascolo, V. ; et al.
In: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018) ; https://hal.science/hal-02085776 ; 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), Jul 2018, Paris, France. pp.1-2, ⟨10.1109/CPEM.2018.8500810⟩, 2018
Online Konferenz

Titel:
Parameterization Models for Traceable Characterization of Planar CPW SOL Calibration Standards
Autor/in / Beteiligte Person: Mubarak, F. ; Mascolo, V. ; Rietveld, G. ; Spirito, M. ; Daffe, K. ; Haddadi, Kamel ; VSL, Dutch Metrology Institute ; Delft University of Technology (TU Delft) ; Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) ; Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN (CSAM - IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Institut TELECOM/TELECOM Lille1 ; Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)
Link:
Zeitschrift: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018) ; https://hal.science/hal-02085776 ; 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), Jul 2018, Paris, France. pp.1-2, ⟨10.1109/CPEM.2018.8500810⟩, 2018
Veröffentlichung: HAL CCSD ; IEEE, 2018
Medientyp: Konferenz
DOI: 10.1109/CPEM.2018.8500810
Schlagwort:
  • Paris
  • France
  • nanostructures
  • on-wafer calibration
  • EM simulation
  • VNA
  • measurement uncertainty
  • precision measurements
  • traceability
  • co-planar waveguide
  • [SPI]Engineering Sciences [physics]
  • [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
  • Subject Geographic: Paris France
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: BASE
  • Sprachen: English
  • Document Type: conference object
  • Language: English
  • Relation: hal-02085776; https://hal.science/hal-02085776; https://hal.science/hal-02085776/document; https://hal.science/hal-02085776/file/mubarak_v06.pdf
  • Rights: info:eu-repo/semantics/OpenAccess

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