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Measurement of UKRI-MPW0 after irradiation: an HV-CMOS prototype for high radiation tolerance

Zhang, C. ; Hammerich, J. ; et al.
In: Journal of Instrumentation, Jg. 19 (2024), Heft 03, S. C03061
academicJournal

Titel:
Measurement of UKRI-MPW0 after irradiation: an HV-CMOS prototype for high radiation tolerance
Autor/in / Beteiligte Person: Zhang, C. ; Hammerich, J. ; Powell, S. ; Vilella, E. ; Wade, B.
Link:
Zeitschrift: Journal of Instrumentation, Jg. 19 (2024), Heft 03, S. C03061
Veröffentlichung: IOP Publishing, 2024
Medientyp: academicJournal
ISSN: 1748-0221
DOI: 10.1088/1748-0221/19/03/c03061
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: BASE
  • Sprachen: unknown
  • Document Type: article in journal/newspaper
  • Language: unknown
  • Rights: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ ; https://iopscience.iop.org/info/page/text-and-data-mining

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