Back-side integration of Hybrid III–V on Silicon DBR lasers
In: 2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02019688 ; 2017 International Symposium on VLSI Technology, 2017
Konferenz
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International audience ; In this paper we demonstrate the monolithic integration of a fully CMOS compatible hybrid DBR laser on the backside of a SOI wafer. This innovative approach allowed implementing CMOS compatible electric interconnects and optical sources on a same chip. The optical characterizations confirm the single wavelength behavior of the realized devices which present a SMSR higher than 35 dB and can be tuned over 4 nm, opening the route to a fully integrated optical transceiver on a Si platform.
Titel: |
Back-side integration of Hybrid III–V on Silicon DBR lasers
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Autor/in / Beteiligte Person: | Durel, J. ; Bakir, B. Ben ; Jany, C. ; Cremer, S. ; Hassan, K. ; Szelag, B. ; Bria, T. ; Larrey, V. ; Sanchez, L. ; Brianceau, P. ; Dallery, J. ; Guiavarch, R. ; Card, T. ; Thibon, R. ; Broquin, J. ; Boeuf, F. ; STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES) ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)) ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) ; Vistec Electron Beam GmbH ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ) ; Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 ) |
Link: | |
Zeitschrift: | 2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02019688 ; 2017 International Symposium on VLSI Technology, 2017 |
Veröffentlichung: | HAL CCSD ; IEEE, 2017 |
Medientyp: | Konferenz |
DOI: | 10.1109/VLSI-TSA.2017.7942492 |
Schlagwort: |
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