XPS Evaluation of Samples Surface Cleaned by the XEI Evactron : Microscopy Society of America
In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK- 7(SUPPL 2):892-893; Jg. 7 (2001) SUPPL 2, S. 892-893
Konferenz
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Titel: |
XPS Evaluation of Samples Surface Cleaned by the XEI Evactron : Microscopy Society of America
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Autor/in / Beteiligte Person: | Walck, S. D. ; Strohmeier, B. ; Goralski, E. ; Vane, R. |
Link: | |
Quelle: | MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK- 7(SUPPL 2):892-893; Jg. 7 (2001) SUPPL 2, S. 892-893 |
Veröffentlichung: | 2001 |
Medientyp: | Konferenz |
Sonstiges: |
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