In-Situ Study of NiO Growth on Textured Nickel Tape using Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) and Hot Stage : Microscopy Society of America

Akin, Y. ; Goddard, R. ; et al.

In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK- 7(SUPPL 2):1276-1277; Jg. 7 (2001) SUPPL 2, S. 1276-1277

Konferenz

Titel:	In-Situ Study of NiO Growth on Textured Nickel Tape using Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) and Hot Stage : Microscopy Society of America
Autor/in / Beteiligte Person:	Akin, Y. ; Goddard, R. ; Sigmund, W. ; Hascicek, Y.
Link:	http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCCN040585126&indx=1&recIds=ETOCCN040585126
Quelle:	MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK- 7(SUPPL 2):1276-1277; Jg. 7 (2001) SUPPL 2, S. 1276-1277
Veröffentlichung:	2001
Medientyp:	Konferenz
Sonstiges:	Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings Sprachen: English

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