Embedded Tutorial: Test Consideration for Nanometer Scale CMOS Circuits : VLSI test symposium
In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM; (2003) S. 313-318
Konferenz
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Titel: |
Embedded Tutorial: Test Consideration for Nanometer Scale CMOS Circuits : VLSI test symposium
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Autor/in / Beteiligte Person: | Roy, K. ; Mak, T. M. ; Cheng, K. T. ; Dey, S. |
Link: | |
Quelle: | IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM; (2003) S. 313-318 |
Veröffentlichung: | 2003 |
Medientyp: | Konferenz |
ISBN: | 978-0-7695-1924-1 (print) ; 0-7695-1924-5 (print) |
ISSN: | 1093-0167 (print) |
Sonstiges: |
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