ESD protection design challenges for a high pin-count alpha microprocessor in a 0.13 mum CMOS SOI technology : Electrical overstress / electrostatic discharge; EOS/ESD
In: JOURNAL OF ELECTROSTATICS 62(NOS 2/3):113-132; Jg. 62 (2004) NOS 2/3, S. 113-132
Konferenz
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Titel: |
ESD protection design challenges for a high pin-count alpha microprocessor in a 0.13 mum CMOS SOI technology : Electrical overstress / electrostatic discharge; EOS/ESD
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Autor/in / Beteiligte Person: | Juliano, P. A. ; Anderson, W. R. |
Link: | |
Quelle: | JOURNAL OF ELECTROSTATICS 62(NOS 2/3):113-132; Jg. 62 (2004) NOS 2/3, S. 113-132 |
Veröffentlichung: | 2004 |
Medientyp: | Konferenz |
ISSN: | 0304-3886 (print) |
Sonstiges: |
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