Calibration of Integrated CMOS Hall Sensors Using Coil-on-Chip in ATE Environment : Design, automation and test in Europe

Badaroglu, M. ; Decabooter, G. ; et al.

In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION- (2):752-757; (2008) 2, S. 752-757

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Titel:	Calibration of Integrated CMOS Hall Sensors Using Coil-on-Chip in ATE Environment : Design, automation and test in Europe
Autor/in / Beteiligte Person:	Badaroglu, M. ; Decabooter, G. ; Laulanet, F. ; Charlier, O.
Link:	Full Text Finder (Volltext) http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCCN071023563&indx=1&recIds=ETOCCN071023563
Quelle:	DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION- (2):752-757; (2008) 2, S. 752-757
Veröffentlichung:	2008
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-3-9810801-3-1 (print) ; 3-9810801-3-0 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings Sprachen: English

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