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1A.3 ESD Design Challenges in 28 nm Hybrid FDSOI/Bulk Advanced CMOS Process : Electrical overstress/electrostatic discharge symposium; Electrical overstress/electrostatic discharge symposium proceedings 2012: Tucson, Arizona, USA, September 9-14, 2012

Dray, A. ; Guitard, N. ; et al.
In: ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM PROCEEDINGS; (2012) S. 15-21
Konferenz

Titel:
1A.3 ESD Design Challenges in 28 nm Hybrid FDSOI/Bulk Advanced CMOS Process : Electrical overstress/electrostatic discharge symposium; Electrical overstress/electrostatic discharge symposium proceedings 2012: Tucson, Arizona, USA, September 9-14, 2012
Autor/in / Beteiligte Person: Dray, A. ; Guitard, N. ; Fonteneau, P. ; Golanksi, D. ; Beckrich, H. ; Sithanandam, R. ; Benoist, T. ; Legrand, C. A. ; Galy, P. ; Fenouillet-Beranger, C.
Link:
Quelle: ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM PROCEEDINGS; (2012) S. 15-21
Veröffentlichung: 2012
Medientyp: Konferenz
ISBN: 978-1-58537-218-8 (print) ; 1-58537-218-8 (print)
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings
  • Sprachen: English

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