Ameliorated CNP Based Heuristic Capacity Equilibrium Optimization in Semiconductor Assembly and Test Factory

Ni, Y. t. ; Yao, J. ; et al.

In: JOURNAL- SICHUAN UNIVERSITY ENGINEERING SCIENCE EDITION, Jg. 44 (2012), Heft 4, S. 226-230

serialPeriodical

Titel:	Ameliorated CNP Based Heuristic Capacity Equilibrium Optimization in Semiconductor Assembly and Test Factory
Autor/in / Beteiligte Person:	Ni, Y. t. ; Yao, J. ; Xu, W. j. ; Li, J. m.
Link:	http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCRN319570820&indx=1&recIds=ETOCRN319570820
Zeitschrift:	JOURNAL- SICHUAN UNIVERSITY ENGINEERING SCIENCE EDITION, Jg. 44 (2012), Heft 4, S. 226-230
Veröffentlichung:	2012
Medientyp:	serialPeriodical
ISSN:	1009-3087 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings Sprachen: Other

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