Automated Crystal Orientation Mapping by Precession Electron Diffraction-Assisted Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Using a Scintillator-Based CMOS Detector

Jeong, Jiwon ; Cautaerts, Niels ; et al.

In: Microscopy and microanalysis, Jg. 27 (2021), Heft 5, S. 1102-1112

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Titel:	Automated Crystal Orientation Mapping by Precession Electron Diffraction-Assisted Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Using a Scintillator-Based CMOS Detector
Autor/in / Beteiligte Person:	Jeong, Jiwon ; Cautaerts, Niels ; Dehm, Gerhard ; Liebscher, Christian H.
Link:	Full Text Finder (Volltext) http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCRN627601771&indx=1&recIds=ETOCRN627601771
Zeitschrift:	Microscopy and microanalysis, Jg. 27 (2021), Heft 5, S. 1102-1112
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	serialPeriodical
ISSN:	1431-9276 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings Sprachen: English

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