Deep Learning-Based BSIM-CMG Parameter Extraction for 10-nm FinFET
In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 8, S. 4765-4768
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Deep Learning-Based BSIM-CMG Parameter Extraction for 10-nm FinFET
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Autor/in / Beteiligte Person: | Kao, Ming-Yen ; Chavez, Fredo ; Khandelwal, Sourabh ; Hu, Chenming |
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Zeitschrift: | IEEE transactions on electron devices, Jg. 69 (2022), Heft 8, S. 4765-4768 |
Veröffentlichung: | 2022 |
Medientyp: | serialPeriodical |
ISSN: | 0018-9383 (print) |
Sonstiges: |
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