CVD-growth and optoelectronic characterization of 2D MoS2/ReS2 vertical heterostructures with reverse stacking sequence

Chen, Fei ; He, Yuxin ; et al.

In: CrystEngComm, Jg. 25 (2023), Heft 37, S. 5334-5342

serialPeriodical

Titel:	CVD-growth and optoelectronic characterization of 2D MoS2/ReS2 vertical heterostructures with reverse stacking sequence
Autor/in / Beteiligte Person:	Chen, Fei ; He, Yuxin ; Zhang, Teyang ; Lv, Qiuran ; Mao, Shuduan
Link:	http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCvdc_100193745403.0x000001&indx=1&recIds=ETOCvdc_100193745403.0x000001
Zeitschrift:	CrystEngComm, Jg. 25 (2023), Heft 37, S. 5334-5342
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	serialPeriodical
ISSN:	1466-8033 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings Sprachen: English

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