Wpływ układu kluczującego na dokładność odwzorowania napięcia w układach próbkująco-pamiętających realizowanych w scalonej technologii CMOS
In: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Online
serialPeriodical
Zugriff:
W artykule przedstawiono wpływ realizacji układu kluczującego na dokładność układu próbkująco-pamiętającego zaprojektowanego w scalonej technologii CMOS 350 nm. Przeanalizowano zachowanie prostych kluczy NMOS, PMOS oraz CMOS. Następnie zaprojektowano i przeanalizowano układy kluczy o specjalnej konstrukcji, wykorzystujące efekt bootstrepu. Praktyczne zastosowanie otrzymanych wyników zilustrowano projektem 12-bitowego, szybkiego układu próbkująco-pamiętającego opartego o architekturę z millerowską pojemnością próbkującą.
Titel: |
Wpływ układu kluczującego na dokładność odwzorowania napięcia w układach próbkująco-pamiętających realizowanych w scalonej technologii CMOS
|
---|---|
Autor/in / Beteiligte Person: | Król, K. ; Piwowarska, E. |
Link: | |
Zeitschrift: | Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania |
Medientyp: | serialPeriodical |
Schlagwort: |
|
Sonstiges: |
|