Zastosowanie algorytmu genetycznego do optymalizacji uzysku analogowych układów scalonychAn analogue integrated circuits yield optimisation with the use of genetic algorithm
Online
serialPeriodical
Zugriff:
Projektowanie analogowych układów scalonych pod kątem ich wytwarzania oraz uzysku DFM/DFY (ang. Design for Manufacturability and Yield) to jedno z najważniejszych zagadnień w procesie ich produkcji. Możliwe jest częściowe nieuwrażliwienie działania układu scalonego na, spowodowane rozrzutem tolerancyjnym, zmiany wartości parametrów obwodu, poprzez precyzyjny dobór ich wartości nominalnych. W artykule, proponujemy wykorzystanie algorytmu genetycznego w procesie centrowania wartości nominalnych parametrów obwodu. Proces wykorzystuje również skonstruowany przez nas model analogowego obwodu scalonego oraz analizę Monte Carlo. Przedstawiona metoda centrowania została zweryfikowana z wykorzystaniem przykładowego układu - wzmacniacza operacyjnego wykonanego w technologii CMOS.
Design for Manufacturability and Yield is one of the most important concepts in analogue integrated circuits manufacturing. The process of adjusting the nominal values of circuit parameters allows for partial immunisation of its performance against deviations in value of the circuit's parameters. This paper proposes the use of an evolutionary tool, the genetic algorithm, for design centring. The process is based on encompassing an assumed integrated model and Monte Carlo analysis. The presented design centring method has been verified with the use of an example circuit, i.e. a CMOS operational amplifier.
Titel: |
Zastosowanie algorytmu genetycznego do optymalizacji uzysku analogowych układów scalonychAn analogue integrated circuits yield optimisation with the use of genetic algorithm
|
---|---|
Autor/in / Beteiligte Person: | Jantos, P. ; Grzechca, D. ; Rutkowski, J. |
Link: | |
Medientyp: | serialPeriodical |
Schlagwort: |
|
Sonstiges: |
|