Zum Hauptinhalt springen

Correlated structural and electronic properties of microcrystalline silicon films deposited at low temperature by catalytic CVD

BOUREE, J. E
In: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000Thin solid films 395(1-2):157-162; Jg. 395 (2001) 1-2, S. 157-162
Konferenz - print, 25 ref

Titel:
Correlated structural and electronic properties of microcrystalline silicon films deposited at low temperature by catalytic CVD
Autor/in / Beteiligte Person: BOUREE, J. E
Link:
Quelle: Proceedings of the First International Conference on Cat-CVD (Hot-Wire CVD) Process, Kanazawa, Japan, November 14-17, 2000Thin solid films 395(1-2):157-162; Jg. 395 (2001) 1-2, S. 157-162
Veröffentlichung: Lausanne: Elsevier Science, 2001
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 25 ref
ISSN: 0040-6090 (print)
Schlagwort:
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Electronics
  • Electronique
  • Metallurgy, welding
  • Métallurgie, soudage
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Dépôt chimique en phase vapeur (incluant le cvd activé par plasma, mocvd, etc.)
  • Chemical vapor deposition (including plasma-enhanced cvd, mocvd, etc.)
  • Chemical vapor deposition (including plasma-enhanced CVD, MOCVD, etc.)
  • Non métal
  • Nonmetals
  • Propriété électrique
  • Electrical properties
  • Addition hydrogène
  • Hydrogen additions
  • Catalyse
  • Catalysis
  • Couche mince
  • Thin films
  • Croissance cristalline en phase vapeur
  • Crystal growth from vapors
  • Dépôt chimique phase vapeur
  • CVD
  • Etude expérimentale
  • Experimental study
  • Fil chaud
  • Hot wire
  • Hilo caliente
  • Microcristal
  • Microcrystal
  • Mode opératoire
  • Operating mode
  • Método operatorio
  • Mécanisme réaction
  • Reaction mechanism
  • Mecanismo reacción
  • Précurseur
  • Precursor
  • Rapport mélange
  • Mixing ratio
  • Relation fabrication propriété
  • Fabrication property relation
  • Relación fabricación propiedad
  • Relation fabrication structure
  • Fabrication structure relation
  • Relación fabricación estructura
  • Réaction phase gazeuse
  • Gaseous phase reaction
  • Reacción fase gaseosa
  • Semiconducteur
  • Semiconductor materials
  • Silane
  • Silanes
  • Silicium
  • Silicon
  • Si:H
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Laboratoire de Physique des Interfaces et des Couches Minces, CNRS UMR 7647, Ecole Polytechnique, 91128 Palaiseau, France
  • Rights: Copyright 2002 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -