Measurement of the switching activity of CMOS digital circuits at the gate level

BAENA, C ; JUAN-CHICO, J ; et al.

In: Integrated circuit design (Seville, 11-13 September 2002)Lecture notes in computer science :353-362

Konferenz - print, 18 ref

Accurate estimation of switching activity is very important in digital circuits. In this paper we present a comparison between the evaluation of the switching activity calculated using logic (Verilog) and electrical (HSPICE) simulators. We also study how the variation on the delay model (min, typ, max) and parasitic effects affect the number of transitions in the circuit. Results show a variable and significant overestimation of this measurement using logic simulators even when including postlayout effects. Furthermore, we show the contribution of glitches to the overall switching activity, giving that the treatment of glitches in conventional logic simulators is the main cause of switching activity overestimation.

Titel:	Measurement of the switching activity of CMOS digital circuits at the gate level
Autor/in / Beteiligte Person:	BAENA, C ; JUAN-CHICO, J ; BELLIDO, M. J ; DE CLAVIJO, P. Ruiz ; JIMENEZ, C. J ; VALENCIA, M
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen? View record from PASCAL Archive
Quelle:	Integrated circuit design (Seville, 11-13 September 2002)Lecture notes in computer science :353-362
Veröffentlichung:	Berlin: Springer, 2002
Medientyp:	Konferenz
Umfang:	print, 18 ref
ISSN:	0302-9743 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Computer science Informatique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Circuits intégrés Integrated circuits Circuits intégrés par fonction (dont mémoires et processeurs) Integrated circuits by function (including memories and processors) Circuit intégré CMOS CMOS integrated circuits Circuit intégré Integrated circuit Circuito integrado Circuit numérique Digital circuit Circuito numérico Circuit porte Gating circuits Composant parasite Parasitic component Componente parásito Consommation énergie électrique Power consumption Estimation paramètre Parameter estimation Estimación parámetro Etude comparative Comparative study Estudio comparativo Méthode calcul Computing method Método cálculo Méthode mesure Measurement method Método medida Programme SPICE SPICE Retard Delay Retraso Régime commutation Switching conditions Régimen conmutación Résultat expérimental Experimental result Resultado experimental Simulation logique Logic simulation Simulación lógica Simulation électrique Electrical simulation Simulación eléctrica
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Conference Paper File Description: text Language: English Author Affiliations: Instituto de Microelectrónica de Sevilla-CNM/Universidad de Sevilla, Avda. Reina Mercedes s/n, 41012-Sevilla, Spain Rights: Copyright 2003 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

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