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Laminated, sacrificial-poly MEMS technology in standard CMOS

GUILLOU, D. F ; SANTHANAM, S ; et al.
In: Proceedings of Eurosensors XIII, The Hague, The Netherlands, 12-15 September 1999: Micromechanics SectionSensors and actuators. A, Physical 85(1-3):346-355; Jg. 85 (2000) 1-3, S. 346-355
Online Konferenz - print, 24 ref

Titel:
Laminated, sacrificial-poly MEMS technology in standard CMOS
Autor/in / Beteiligte Person: GUILLOU, D. F ; SANTHANAM, S ; CARLEY, L. R
Link:
Quelle: Proceedings of Eurosensors XIII, The Hague, The Netherlands, 12-15 September 1999: Micromechanics SectionSensors and actuators. A, Physical 85(1-3):346-355; Jg. 85 (2000) 1-3, S. 346-355
Veröffentlichung: Lausanne: Elsevier Science, 2000
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 24 ref
ISSN: 0924-4247 (print)
Schlagwort:
  • Physics
  • Physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Generalites
  • General
  • Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie
  • Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy
  • Techniques, équipements et instruments mécaniques
  • Mechanical instruments, equipment and techniques
  • Systèmes et dispositifs micromécaniques
  • Micromechanical devices and systems
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique
  • Electronics
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Fabrication microélectronique (technologie des matériaux et des surfaces)
  • Microelectronic fabrication (materials and surfaces technology)
  • Lithography, masks and pattern transfer
  • Circuit intégré CMOS
  • CMOS integrated circuits
  • Compatibilité
  • Compatibility
  • Dispositif micromécanique
  • Micromechanical devices
  • Dispositif électromécanique
  • Electromechanical device
  • Dispositivo electromecánico
  • Etude expérimentale
  • Experimental study
  • Microusinage
  • Micromachining
  • Silicium polycristallin
  • Polysilicon
  • Silicio policristal
  • Stabilité
  • Stability
  • Traitement surface
  • Surface treatments
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Department of Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Avenue, Pittsburgh, PA 15213, United States
  • Rights: Copyright 2000 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics ; Metrology

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