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Growth of silicon thin film by LPE on porous silicon bilayers

OULD-ABBAS, A ; BOUCHAOUR, M ; et al.
In: Journal of thermal analysis and calorimetry 76(2):685-691; Jg. 76 (2004) 2, S. 685-691
Online Konferenz - print, 14 ref

Titel:
Growth of silicon thin film by LPE on porous silicon bilayers
Autor/in / Beteiligte Person: OULD-ABBAS, A ; BOUCHAOUR, M ; CHABANE-SARI, N.-E ; BERGER, S ; KAMINSKI, A ; FAVE, A
Link:
Quelle: Journal of thermal analysis and calorimetry 76(2):685-691; Jg. 76 (2004) 2, S. 685-691
Veröffentlichung: Dordrecht: Springer, 2004
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 14 ref
ISSN: 1388-6150 (print)
Schlagwort:
  • General chemistry, physical chemistry
  • Chimie générale, chimie physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Epitaxie en phase liquide; dépôt en phase liquide (phases fondues, solutions et couches superficielles sur des liquides)
  • Liquid phase epitaxy; deposition from liquid phases (melts, solutions, and surface layers on liquids)
  • Couche bimoléculaire
  • Bilayer
  • Capa bimolecular
  • Couche mince
  • Thin films
  • Epitaxie phase liquide
  • LPE
  • Matériau poreux
  • Porous materials
  • Microscopie électronique balayage
  • Scanning electron microscopy
  • Morphologie
  • Morphology
  • Semiconducteur
  • Semiconductor materials
  • Silicium
  • Silicon
  • Structure surface
  • Surface structure
  • c-Si
  • porous silicon
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Laboratoire des Matériaux et Energies Renouvelables, Université de Tlemcen, BP 119, Tlemcen 13000, Algeria ; Laboratoire de Physique de la Matière, UMR-CNRS 5511, Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, Bât. B. Pasc 1, 7 avenue Jean Capelle, 69621 Villeurbanne, France
  • Rights: Copyright 2005 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science

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