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Submicron piezoresistive cantilevers in a CMOS-compatible technology for intermolecular force detection

VILLANUEVA, G ; MONTSERRAT, J ; et al.
In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United KingdomMicroelectronic engineering 73-74:480-486; Jg. 73-74 (2004) S. 480-486
Konferenz - print, 26 ref

Titel:
Submicron piezoresistive cantilevers in a CMOS-compatible technology for intermolecular force detection
Autor/in / Beteiligte Person: VILLANUEVA, G ; MONTSERRAT, J ; PEREZ-MURANO, F ; RIUS, G ; BAUSELLS, J
Link:
Quelle: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United KingdomMicroelectronic engineering 73-74:480-486; Jg. 73-74 (2004) S. 480-486
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier Science, 2004
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 26 ref
ISSN: 0167-9317 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Essais, mesure, bruit et fiabilité
  • Testing, measurement, noise and reliability
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Circuits intégrés
  • Integrated circuits
  • Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais
  • Design. Technologies. Operation analysis. Testing
  • Dispositifs à ondes acoustiques, piézoélectriques, piézorésistifs
  • Acoustic wave devices, piezoelectric and piezoresistive devices
  • Capteur mesure
  • Measurement sensor
  • Captador medida
  • Circuit intégré CMOS
  • CMOS integrated circuits
  • Dispositif piézorésistif
  • Piezoresistive device
  • Dispositivo piezoresistivo
  • Essai
  • Test
  • Ensayo
  • Matériau dopé
  • Doped materials
  • Microscopie force atomique
  • Atomic force microscopy
  • Microscopía fuerza atómica
  • Polycristal
  • Polycrystal
  • Policristal
  • Poutre cantilever
  • Cantilever beam
  • Viga cantilever
  • Technologie MOS complémentaire
  • Complementary MOS technology
  • Tecnología MOS complementario
  • Cantilever
  • Force sensor
  • Piezoresistive cantilever
  • Polysilicon
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Centro Nacional de Microelectrónica (IMB-CSIC), Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain
  • Rights: Copyright 2004 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics

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