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A large area CMOS monolithic active pixel sensor for extreme ultra violet spectroscopy and imaging

PRYDDERCH, Mark ; WALTHAM, Nick ; et al.
In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, and digital photography applications V (San Jose CA, 19-21 January 2004)SPIE proceedings series :175-185
Konferenz - print, 3 ref

Titel:
A large area CMOS monolithic active pixel sensor for extreme ultra violet spectroscopy and imaging
Autor/in / Beteiligte Person: PRYDDERCH, Mark ; WALTHAM, Nick ; MORRISSEY, Quentin ; FRENCH, Marcus ; TURCHETTA, Renato ; POOL, Peter
Link:
Quelle: Sensors and camera systems for scientific, industrial, and digital photography applications V (San Jose CA, 19-21 January 2004)SPIE proceedings series :175-185
Veröffentlichung: Bellingham WA: SPIE, 2004
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 3 ref
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Metrology and instrumentation
  • Métrologie et instrumentation
  • Optics
  • Optique
  • Physics
  • Physique
  • Telecommunications
  • Télécommunications
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Generalites
  • General
  • Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie
  • Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy
  • Techniques et équipements généraux
  • General equipment and techniques
  • Capteurs (chimiques, optiques, électriques, de mouvement, de gaz, etc.); télédétection
  • Sensors (chemical, optical, electrical, movement, gas, etc.); remote sensing
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Circuits intégrés
  • Integrated circuits
  • Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais
  • Design. Technologies. Operation analysis. Testing
  • Dispositifs à transfert de charge
  • Charge transfer devices
  • Dispositifs optoélectroniques
  • Optoelectronic devices
  • Capteur image CMOS
  • CMOS image sensors
  • Capteur mesure
  • Measurement sensor
  • Captador medida
  • Circuit intégré monolithique
  • Monolithic integrated circuit
  • Circuito integrado monolítico
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  • Optoelectronic device
  • Dispositivo optoelectrónico
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  • Microelectronic fabrication
  • Fabricación microeléctrica
  • Formation image
  • Imaging
  • Formación imagen
  • Gravure faisceau ionique
  • Ion beam etching
  • Grabado haz iónico
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  • Prototipo
  • Rayonnement UV extrême
  • Vacuum ultraviolet radiation
  • Radiación ultravioleta extrema
  • Technologie MOS complémentaire
  • Complementary MOS technology
  • Tecnología MOS complementario
  • Technologie faisceau ion focalisé
  • Focused ion beam technology
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Rutherford Appleton Laboratory, Chilton, Didcot, Oxfordshire, OX11 0QX, United Kingdom ; E2v Technologies, 106 Waterhouse Lane, Chelmsford, Essex, CM1 2QU, United Kingdom
  • Rights: Copyright 2004 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics ; Metrology

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