Domain wall confinement with thin film edges

NAWATE, Masahiko ; HONDA, Shigeo ; et al.

In: Selected papers from the 7th Perpendicular Magnetic Recording Conference (PMRC 2004)Journal of magnetism and magnetic materials 287:392-396; Jg. 287 (2005) S. 392-396

Konferenz - print, 8 ref

Wie komme ich dran?

Magnetization distribution has been calculated for nanocontacts consisting of two films contacted at their edges by means of a micromagnetic framework using the Laudau-Lifshitz-Gilbert formula. Two types of junctions, crossing edges (X-type) and overlapped corner (C-type) of films, are considered. In the X-type configuration, the domain wall between two films having head-to-head or tail-to-tail magnetization direction is confined when the film thickness is lowered to 4 nm. If the small-size bridge is introduced to the junction area, the wall confinement is slightly enhanced. On the other hand, for the C-type junction the domain wall width decreases with increasing film thickness. These configurations can be potential candidates for the ballistic magnetoresistance sensor which can be manufactured using thin films.

Titel:	Domain wall confinement with thin film edges
Autor/in / Beteiligte Person:	NAWATE, Masahiko ; HONDA, Shigeo ; TANAKA, Hiroshi
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen? View record from PASCAL Archive
Quelle:	Selected papers from the 7th Perpendicular Magnetic Recording Conference (PMRC 2004)Journal of magnetism and magnetic materials 287:392-396; Jg. 287 (2005) S. 392-396
Veröffentlichung:	Amsterdam: Elsevier Science, 2005
Medientyp:	Konferenz
Umfang:	print, 8 ref
ISSN:	0304-8853 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Condensed state physics Physique de l'état condensé Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Physique Physics Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Propriétés et matériaux magnétiques Magnetic properties and materials Aimantation Magnetization Capteur Sensors Confinement Couche mince Thin films Direction aimantation Magnetization direction Dirección imanación Epaisseur Thickness Magnétorésistance Magnetoresistance Micromagnétisme Micromagnetism Nanocontact Nanocontacts Paroi domaine Domain walls Paroi mince Thin wall Pared delgada Transport balistique Ballistic transport 75.40.Mg 75.47.Jn 75.60.Ch 75.75. + a Domain wall confinement Film edge LLG equation Micromagnetics
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Conference Paper File Description: text Language: English Author Affiliations: Department of Electronics and Control Systems, Shimane University, Nishikawatsu 1060, Matsue 690-8504, Japan Rights: Copyright 2005 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

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