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Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

MISTRIK, Jan ; YAMAGUCHI, Tomuo ; et al.
In: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004Applied surface science 244(1-4):431-434; Jg. 244 (2005) 1-4, S. 431-434
Konferenz - print, 9 ref

Titel:
Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
Autor/in / Beteiligte Person: MISTRIK, Jan ; YAMAGUCHI, Tomuo ; FRANTA, Daniel ; OHLIDAL, Ivan ; GU JIN, HU ; NING, DAI
Link:
Quelle: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004Applied surface science 244(1-4):431-434; Jg. 244 (2005) 1-4, S. 431-434
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier Science, 2005
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 9 ref
ISSN: 0169-4332 (print)
Schlagwort:
  • General chemistry, physical chemistry
  • Chimie générale, chimie physique
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Propriétés optiques, spectroscopie et autres interactions de la matière condensée avec les particules et le rayonnement
  • Optical properties and condensed-matter spectroscopy and other interactions of matter with particles and radiation
  • Propriétés optiques des matériaux massifs et des couches minces
  • Optical properties of bulk materials and thin films
  • Constantes optiques: indice de réfraction; constante diélectrique complexe; coefficients d'absorption, de réflexion et de transmission; émissivité
  • Optical constants: refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity
  • Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity)
  • Composé minéral
  • Inorganic compounds
  • Lanthane composé
  • Lanthanum compounds
  • Métal transition composé
  • Transition element compounds
  • Composé ternaire
  • Ternary compounds
  • Constante optique
  • Optical constants
  • Couche mince
  • Thin films
  • Ellipsométrie
  • Ellipsometry
  • Lanthane oxyde
  • Lanthanum oxides
  • Nickel oxyde
  • Nickel oxides
  • Procédé sol gel
  • Sol-gel process
  • Réflectométrie
  • Reflectometry
  • La Ni O
  • LaNiO3
  • 78.20.Ci Ellipsometry
  • LNO
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Research Institute of Electronics, Shizuoka University, Johoku 3-5-1, 432-8011 Hamamatsu, Japan ; Laboratory of Plasma Physics and Plasma Sources, Masaryk University, Kotlarska 2, 61137 Brno, Czech Republic ; Shanghai Institute of Technical Physics, National Laboratory for Infrared Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, China
  • Rights: Copyright 2005 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

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