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LM-STAR® technology support solution

KRAYEWSKY, Mike ; BOND, Mike
In: 2004 IEEE AUTOTESTCON (proceedings) :129-135
Konferenz - print, 2 ref 1

Titel:
LM-STAR® technology support solution
Autor/in / Beteiligte Person: KRAYEWSKY, Mike ; BOND, Mike
Link:
Quelle: 2004 IEEE AUTOTESTCON (proceedings) :129-135
Veröffentlichung: Piscataway NJ: IEEE, 2004
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 2 ref 1
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Essais, mesure, bruit et fiabilité
  • Testing, measurement, noise and reliability
  • Appareillage essai
  • Testing equipment
  • Aparato ensayo
  • Application militaire
  • Military application
  • Aplicación militar
  • Article synthèse
  • Review
  • Artículo síntesis
  • Autotest
  • Built in self test
  • Autoprueba
  • Avion combat
  • Fight aircraft
  • Avión combate
  • Avionique
  • Avionics
  • Aviónica
  • Aéronef
  • Aircraft
  • Aeronave
  • Conception système
  • System design
  • Concepción sistema
  • Configuration étoile
  • Star configuration
  • Configuración estrella
  • Coût exploitation
  • Operating cost
  • Costo explotación
  • Diminution coût
  • Cost lowering
  • Reducción costes
  • Implémentation
  • Implementation
  • Implementación
  • Usine fabrication
  • Factory
  • Fábrica
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Lockheed Martin 32506 Lake Underhill Road, Orlando, Florida 32825, United States
  • Rights: Copyright 2006 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics

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