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Evolution path of MWS technologies : RF, IR and UV

TIDHAR, Gil ; SCHLISSELBERG, Raanan
In: Infrared technology and applications XXXI (28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA)Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering :662-673
Konferenz - print, 10 ref 2

Titel:
Evolution path of MWS technologies : RF, IR and UV
Autor/in / Beteiligte Person: TIDHAR, Gil ; SCHLISSELBERG, Raanan
Link:
Quelle: Infrared technology and applications XXXI (28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA)Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering :662-673
Veröffentlichung: Bellingham, Wash., USA: SPIE, 2005
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 10 ref 2
ISSN: 0277-786X (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Metrology and instrumentation
  • Métrologie et instrumentation
  • Optics
  • Optique
  • Physics
  • Physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Generalites
  • General
  • Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie
  • Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy
  • Instrumentation, équipements et techniques en infrarouge, onde submillimétrique, hyperfréquence et radiofréquence
  • Infrared, submillimeter wave, microwave and radiowave instruments, equipment and techniques
  • Bolomètres; récepteurs et détecteurs en infrarouge, onde submillimétrique, hyperfréquence et radiofréquence
  • Bolometer; infrared, submillimeter wave, microwave and radiowave receivers and detectors
  • Détecteur IR
  • Infrared detectors
  • Détecteur rayonnement
  • Radiation detectors
  • Imagerie thermique
  • Thermal imaging
  • 0757K
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Ministry of Defense, Directorate of Defense Research and Development, Optronic Systems Division Hakirya, Tel-Aviv 61909, Israel
  • Rights: Copyright 2006 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Metrology

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