On-wafer measurement of microstrip-based circuits with a broadband vialess transition

LIN, ZHU ; MELDE, Kathleen L

In: IEEE transactions on advanced packaging, Jg. 29 (2006), Heft 3, S. 654-659

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A broadband vialess coplanar waveguide (CPW)-to-microstrip transition for on-wafer measurements has been developed. The electrical connection between the top ground of the CPW and the bottom ground of the microstrip is realized by electromagnetic coupling, thus no substrate via holes are required. In this paper, simulation and measurement results of the transition are given, the optimal design rules are discussed, and the utilization of the transition for de-embedding microstrip benchmark structures is presented. The measured insertion loss of two transitions in a back-to-back configuration is less than 0.5 dB from 2.5 to 11.8 GHz, and the measured return loss is better than 20 dB from 3 to 11 GHz.

Titel:	On-wafer measurement of microstrip-based circuits with a broadband vialess transition
Autor/in / Beteiligte Person:	LIN, ZHU ; MELDE, Kathleen L
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Zeitschrift:	IEEE transactions on advanced packaging, Jg. 29 (2006), Heft 3, S. 654-659
Veröffentlichung:	Piscataway, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 11 ref
ISSN:	1521-3323 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Essais, mesure, bruit et fiabilité Testing, measurement, noise and reliability Circuit microbande Microstrip circuits Conception optimale Optimal design Concepción optimal Connexion électrique Electrical connection Conexión eléctrica Couplage électromagnétique Electromagnetic coupling Acoplamiento electromagnético Essai circuit Circuit testing Guide onde coplanaire Coplanar waveguides Large bande Wide band Banda ancha Pastille électronique Wafer Pastilla electrónica Perte insertion Insertion loss Pérdida inserción Transition guide onde Tapered waveguide section Transición guía onda Transition microbande Microstrip transitions Trou interconnexion Via hole Agujero interconexión Perte retour Return loss Coplanar waveguide (CPW)-to-microstrip transition microstrip on-wafer measurement multiline thru-reflect-line (ML-TRL) calibration vialess
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Department of Electrical and Computer Engineering, University of Arizona, Tucson, AZ 85721-0104, United States Rights: Copyright 2006 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

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