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The dependence of the optical properties on the Ti doping concentration in GaAs epilayers

WUI, Y. H ; KANG, T. W ; et al.
In: Applied surface science, Jg. 148 (1999), Heft 1-2, S. 111-115
academicJournal - print, 27 ref

Titel:
The dependence of the optical properties on the Ti doping concentration in GaAs epilayers
Autor/in / Beteiligte Person: WUI, Y. H ; KANG, T. W ; KIM, T. W
Link:
Zeitschrift: Applied surface science, Jg. 148 (1999), Heft 1-2, S. 111-115
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier Science, 1999
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 27 ref
ISSN: 0169-4332 (print)
Schlagwort:
  • General chemistry, physical chemistry
  • Chimie générale, chimie physique
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure, proprietes mecaniques et thermiques
  • Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
  • Surfaces et interfaces; couches minces et trichites (structure et propriétés non électroniques)
  • Surfaces and interfaces; thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
  • Structure et morphologie de couches minces
  • Thin film structure and morphology
  • Défauts et impuretés: dopage, implantation, distribution, concentration, etc
  • Defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Propriétés optiques, spectroscopie et autres interactions de la matière condensée avec les particules et le rayonnement
  • Optical properties and condensed-matter spectroscopy and other interactions of matter with particles and radiation
  • Propriétés optiques des couches minces
  • Optical properties of specific thin films
  • Semiconducteurs iii-v
  • Iii-v semiconductors
  • III-V semiconductors
  • Composé minéral
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  • Experimental study
  • Exciton
  • Excitons
  • Gallium arséniure
  • Gallium arsenides
  • Impureté interstitielle
  • Interstitial impurities
  • Impureza intersticial
  • Matériau semiconducteur
  • Semiconductor materials
  • Photoluminescence
  • Photoréflectance
  • Photoreflectance
  • As Ga
  • GaAs:Ti
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Department of Physics, Dongguk University, Seoul 100-715, Korea, Republic of ; Department of Physics, Kwangwoon University, 447-1 Wolgye-dong, Nowon-ku, Seoul 139-701, Korea, Republic of
  • Rights: Copyright 1999 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties ; Physics of condensed state: structure, mechanical and thermal properties

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